MOIP1000P光隔离探头

MOIP1000P光隔离探头

真实的信号呈现

SigOFIT光隔离探头具有的共模抑制比，在100MHz时CMRR高达128dB、在1GHz时CMRR仍然高达108dB，是判定其他电压探头所测信号真实性的裁判。

测试精度与稳定性

作为判定其他电压探头所测信号真实性，测试精度是SigOFIT光隔离探头的重要指标。麦科信光隔离探头，具有较佳的幅频特性，直流增益精度优于1%，底噪小于0.45mVrms，预热5min后零点漂移小于0.1%，增益漂移小于1%。 

第三代半导体的理想测试手段

由于导通与关断时间很短，信号具有更快的上升沿和下降沿，信号中具有很高能量的高频谐波，SigOFIT的MOIP1000P光隔离探头在高带宽时，仍然具有超100dB的共模抑制比，可以地抑制高频共模噪声所产生的震荡，所呈现的信号没有额外多余成分，是第三代半导体测试的理想选择。

测试氮化镓（GaN）不炸管

SigOFIT光隔离探头测试引线短且采用同轴传输，探头输入电容小于2.5pF，测试氮化镓（GaN）十分安全。

测试量程更宽

不同于高压差分探头只可以测试高压信号，SigOFIT 光隔离探头，通过匹配不同的衰减器，可以测试 ±1.25V 至 ±2500V 的差模信号，并实现满量程输出，达到很高的信噪比。10X / 20X / 50X / 500X / 1000X / 2000X

产品参数